Pełnotekstowe zasoby PLDML oraz innych baz dziedzinowych są już dostępne w nowej Bibliotece Nauki.
Zapraszamy na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last

Wyniki wyszukiwania

help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy podaje się twierdzenia, które mogą być podstawą do oszacowania(zgodnie z zasadami statystyki matematycznej) funkcji niezawodności obiektu poprawionego. Korzysta się przy tym z danych o obiekcie przed jego poprawieniem. Wyrózniono dwa rodzaje metod poprawiania: -przez selekcję, -przez uszlachetnienie. Omówiono niektóre interpretacje rozważanych modeli.
EN
The author considers a population Π of devices which can fail due to one of the modes of failure Ui, i=1,2,...,k. Assume that each device e in Π has a life which will terminate at time T(e) due to mode Uj. When a device is drawn at random from Π, the pair [T(e),j] is a two-dimensional random variable with probability distribution P(T,j) which determines the marginal survival function R(t)=P{T>t}, called the "reliability function before improvement". The author discusses possible improvement of such a population by procedures of two types. Type I consists of removing from Π all devices with certain unfavorable qualities, for example, those that fail due to Uj within a test period tj for specified j and tj, or those for which one can tell beforehand that they will fail due to a specified Uj. Type II consists of modifying the devices (e.g., by changing the manufacturing process) in a way that will change the probability distribution P(T,j) into some P~(T,j). In view of the multiplicity of modes of failure, this leads to questions dealing with competing risks.
2
Artykuł dostępny w postaci pełnego tekstu - kliknij by otworzyć plik
Content available

Review: D. Stoyan, D. Konig; Queuing theory

100%
PL
Artykuł nie zawiera streszczenia
EN
The article contains no abstract
3
Content available remote

The first exit of almost strongly recurrent semi-Markov processes

63%
EN
Let $\stackrelnX(·)$, n ∈ N, be a sequence of homogeneous semi-Markov processes (HSMP) on a countable set K, all with the same initial p.d. concentrated on a non-empty proper subset J. The subrenewal kernels which are restrictions of the corresponding renewal kernels $\stackrelnQ$ on K×K to J×J are assumed to be suitably convergent to a renewal kernel P (on J×J). The HSMP on J corresponding to P is assumed to be strongly recurrent. Let [$π_j$; j ∈ J] be the stationary p.d. of the embedded Markov chain. In terms of the averaged p.d.f. $F_{ϑ}(t) :=\sum_{j,k ∈ J} π_jP_{j,k}(t)$, t ∈ i$ℝ_+$, and its Laplace-Stieltjes transform $\widetilde F_ϑ$, the above assumptions imply: The time $\stackrel{n}{T}_{J}$ of the first exit of $\stackrel{n}{X}(·)$ from J has a limit p.d. (up to some constant factors) iff 1 - $\widetilde F_ϑ$ is regularly varying at 0 with a positive degree, say α ∈ (0,1]. Then the transform of the limit p.d.f. equals $\widetilde G^{(α)}(s) = (1+s^{α})^{-1}$, Re s ≥ 0. This extends the results by V. S. Korolyuk and A. F. Turbin (1976) obtained for α = 1 under essentially stronger conditions.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.