Przejdź do menu głównego
Przejdź do treści
PL
|
EN
Pełnotekstowe zasoby PLDML oraz innych baz dziedzinowych są już dostępne w nowej Bibliotece Nauki.
Zapraszamy na
https://bibliotekanauki.pl
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas
test
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Artykuł - szczegóły
Narzędzia
PL
EN
BibTeX
PN-ISO 690:2012
Chicago
Chicago (Autor-Data)
Harvard
ACS
ACS (bez tytułu art.)
IEEE
Adres strony
Kopiuj
Czasopismo
Applicationes Mathematicae
1954
|
2
|
2
| 210-224
Tytuł artykułu
O wyrywkowym sprawdzaniu przedmiotów przy warunku dwustronnym
Autorzy
J. Oderfeld
Treść / Zawartość
Pełne teksty:
Pobierz
Warianty tytułu
EN
On sampling inspection with a two-sided criterion
RU
О выборочной проверке предметов при двусторонним условии
Języki publikacji
PL
EN
RU
Abstrakty
Słowa kluczowe
Wydawca
Institute of Mathematics Polish Academy of Sciences
Czasopismo
Applicationes Mathematicae
Rocznik
1954
Tom
2
Numer
2
Strony
210-224
Opis fizyczny
Daty
wydano
1954
Twórcy
autor
J. Oderfeld
Warszawa
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.desklight-f583ccb7-f02c-4485-9367-3abfd913eed2
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.